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[发明专利]背光模组的控制方法-CN200610078794.9无效
发明人：林峰立 -专利权人：启萌科技有限公司
申请日： 2006-05-11 - 公布日： 2007-11-14 - 主分类号： G09G3/34 文献下载
摘要：本发明是有关于一种背光模组的控制方法，其中背光模组是至少具有一第一发光组件、一第二发光组件及一第三发光组件，而控制方法是包括以下步骤：检测第一发光组件及第二发光组件的一总发光强度；检测第二发光组件及第三发光组件的一总发光强度；检测第三发光组件及第一发光组件的一总发光强度；依据该等总发光强度，而分别得到第一发光组件的发光强度、第二发光组件的发光强度及第三发光组件的发光强度；以及分别将第一发光组件的发光强度、第二发光组件的发光强度及第三发光组件的发光强度调整至其相对应的一预设发光强度
背光模组控制方法

[发明专利]基板处理装置和该装置的分析方法-CN200710167538.1有效
发明人：田中秀树;齐藤进 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2007-10-26 - 公布日： 2008-05-14 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：在处理模块(2)中，测定在腔室内零件即将更换前的导入腔室前的处理气体的发光强度(42)和通过腔室内后的处理气体的发光强度(43)，在腔室内零件刚更换后，导入腔室前的处理气体的发光强度(44)与发光强度(42)一致的情况下，测定通过腔室内后的处理气体的发光强度(45)，计算该发光强度(45)和发光强度(43)的变动量(47)，在对晶片(W)的等离子体处理开始后，测定通过腔室内后的处理气体的发光强度(48)，从该发光强度(48)之中除去所述发光强度的变动量(47)，计算真正反映腔室(10)内的状态的发光强度(49)，并由该发光强度(49)检知等离子体处理的终点。
处理装置分析方法

[发明专利]一种自动调节发光强度的发光设备及方法-CN201510655596.3有效
发明人：陈喜玲 -专利权人： TCL移动通信科技（宁波）有限公司
申请日： 2015-10-10 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： G06F3/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种自动调节发光强度的方法，包括：发光设备在发光之前，获取当前光线需照射的目标对象的图片；判断所述目标对象中是否存在人脸，若所述目标对象中存在人脸，则检测所述人脸与所述发光设备之间的距离，并结合所述距离与发光强度以判断是否属于安全发光，若属于安全发光，则所述发光设备以当前发光强度进行发光，若不属于安全发光，则不以所述当前发光强度和距离进行发光。本发明还提供一种自动调节发光强度的发光设备。本发明所提供的自动调节发光强度的方法在判断属于安全发光才进行发光，不属于安全发光则不以当前发光强度发光，如此，可有效避免用户在使用发光设备的过程中危及自己或周围人的安全。
一种自动调节发光强度发光设备方法

[发明专利]半导体发光元件及其制法-CN200810187393.6有效
发明人：李承士;殷寿志;谢馨仪;林神江 -专利权人：佰鸿工业股份有限公司
申请日： 2008-12-31 - 公布日： 2010-07-07 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：一种半导体发光元件，包含：一半导体晶片及一受激发光层。受激发光层覆盖于半导体晶片上，受激发光层对应半导体晶片的发光强度较强区域的厚度较厚，对应发光强度较弱区域厚度较薄，受激发光层对应于发光强度较强区域的厚度与对应于发光强度较弱区域的厚度比大于1而小于5。其制法，包含：a)提供一半导体晶片，并量测其出光强度分布；b)依据该半导体晶片的出光强度分布决定一受激发光层的形状，使受激发光层对应半导体晶片的发光强度较强区域的厚度较厚，对应发光强度较弱区域厚度较薄，以使各出光角度色温均匀，并制作一具有预定形状的治具；c)借由治具于半导体晶片上形成一受激发光层。目的在于借由受激发光层的形状补偿晶片发光强度不均的缺点，达到色度均匀。
半导体发光元件及其制法

[发明专利]背光模组的控制方法-CN200610127538.4无效
发明人：林峰立 -专利权人：启萌科技有限公司
申请日： 2006-09-12 - 公布日： 2008-03-19 - 主分类号： G09G3/34 文献下载
摘要：本发明是有关于一种背光模组的控制方法，其中背光模组是具有至少三个发光元件，而控制方法是包括以下步骤：检测该等发光元件的至少二个发光元件的一总发光强度；检测该等发光元件的至少一发光元件的一总发光强度；检测该等发光元件的至少另一发光元件的一总发光强度；以及依据该等总发光强度，分别得到各发光元件的发光强度。
背光模组控制方法

[发明专利]拍摄图像的方法、装置及计算机可读存储介质-CN201711270472.9有效
发明人：孙恒;林哲弘 -专利权人：北京小米移动软件有限公司
申请日： 2017-12-05 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：所述方法包括：获取当前的环境光强度，根据所述当前的环境光强度，确定目标发光强度，其中，所述目标发光强度为执行拍摄操作时柔光灯的发光强度，根据所述目标发光强度，控制所述柔光灯发光，并执行所述拍摄操作。
拍摄图像方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]一种生物荧光成像亮度自动分析调节的方法与装置-CN201710610519.5有效
发明人：杨如林;高能越;李少白;王凯莉;张旭景 -专利权人：苏州德锐特成像技术有限公司
申请日： 2017-07-25 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种生物荧光成像亮度自动分析调节的方法与装置，包括S1：获取当前样品的荧光成像亮度值和激发光强度，根据预设的亮度基准值，计算出亮度差值；S2：分次调节激发光强度，使当前样品的荧光成像亮度值向亮度基准值调整；S3：拟合出荧光成像亮度值和激发光强度关系公式：IF∞Fm；S4：根据荧光成像亮度值和激发光强度之间关系公式得到样品荧光成像亮度基准值时的激发光强度，并调节至此激发光强度，本发明通过预设的亮度基准值，自动计算荧光成像光强和激发光强度之间关系公式，并自动调节光源使荧光强度至亮度基准值，简化了荧光光强与激发光强度之间关系的分析，减少了人工操作，提高了采集效率
一种生物荧光成像亮度自动分析调节方法装置

[发明专利]发光装置和美容器-CN202180008259.9在审
发明人：池原正博;远藤昌臣;松本幸满 -专利权人：夏普株式会社;爱德兰丝株式会社
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： H05B47/10 文献下载
摘要：一种美容器(1)，具备LED(14)、检测脸的位置的脸检测部(11)、控制LED的发光强度的电流控制部(13)、控制部(12)，控制部取得发光强度的初始值，从脸检测部取得脸的位置，根据脸的位置的初始值和当前值，从发光强度的初始值算出使脸的照度恒定的调整发光强度，为了将发光强度调整为调整发光强度而指示电流控制部。
发光装置和美容器

[发明专利]利用空间分解发光成像进行器件测定-CN200980114220.4有效
发明人：亨纳·坎普韦特;托尔斯滕·特鲁普克;于尔根·韦伯 -专利权人： BT成像股份有限公司
申请日： 2009-04-23 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：使用发光成像来测量光伏器件的空间分解串联电阻的方法。该方法包括步骤：使用初始光照强度和端子电压来测量所述器件的区域的第一发光强度，使用变化的光照强度或者变化的端子电压来测量所述器件的所述区域的第二发光强度，以及测量其中至少一个参数相对第二校正发光强度的测量发生变化的所述区域处的第三发光强度，其中所述参数是端子电压和光照强度。内插或者外插第二发光强度和第三发光强度，以确定能够产生所述第一发光强度的端子电压和光照强度的值，其中使用所确定的值来估计器件的所述区域处的串联电阻。
利用空间分解发光成像进行器件测定

[发明专利]一种背光发光强度调整方法和装置-CN202211153024.1在审
发明人：于波;季栋辉;刘铂 -专利权人：中汽创智科技有限公司
申请日： 2022-09-21 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G09G3/34 文献下载
摘要：本发明涉及了一种背光发光强度调整方法和装置，该方法包括：采集当前帧图像的图像信号，并对当前帧图像进行分区，得到多个子区域；基于灰度直方图确定子区域的初始背光发光强度；基于初始背光发光强度，对每个子区域进行空间滤波，得到子区域的滤波背光发光强度；基于当前帧图像中每个子区域的滤波背光发光强度、前一帧图像中对应子区域的目标背光发光强度，对当前帧图像进行时域滤波，得到当前帧图像中每个子区域的目标背光发光强度。上述方案使得初始发光强度根据子区域中所有像素点的灰度来确定，进而使得画面具有高对比度，并且对每个子区域进行空间滤波和时域滤波，过滤了噪声对于画质的影响，提高了画面质量，降低了能量消耗。
一种背光发光强度调整方法装置

[发明专利]具有一致的LC层的LCD设备-CN200510129724.7有效
发明人：永井博;池野英德 -专利权人： NEC液晶技术株式会社
申请日： 2005-12-08 - 公布日： 2006-06-14 - 主分类号： G02F1/1337 文献下载
摘要：一种LCD设备包括LC面板以及具有背光源和发光强度控制单元的背光单元。该背光源在对应于红色、绿色和蓝色的每个波长范围中具有峰值发光强度。发光强度控制单元控制LCD单元的较低灰度级的与蓝色相对应的波长范围的峰值发光强度，使其低于较高灰度级的峰值发光强度，以由此防止屏幕上的色度向蓝色偏移。
具有一致 lc lcd 设备

[发明专利]LED测试机校准方法、LED测试标准样品管及LED校准设备-CN202310182671.3在审
发明人：王军永;谢少佳;蔡彬;陈红文;黄春;陈洁亮;林广鸿;吴俭滔 -专利权人：佛山市国星光电股份有限公司
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种LED测试机校准方法、LED测试标准样品管及LED校准设备，其中LED测试机校准方法包括以下步骤：提供LED测试标准样品管，LED测试标准样品管包括发光强度可调整的发光单元；在待测的批次内选取多个LED元件，获取各LED元件在输入设定的测试电压时的发光强度，并计算出各LED元件的发光强度平均值；将LED测试标准样品管的发光单元的发光强度调整至发光强度平均值；使用LED测试标准样品管对LED测试机进行校准与现有技术相比，本发明将LED测试标准样品管的发光强度调整至选取的多个LED元件的发光强度平均值，然后用该LED测试标准样品管来对LED测试机进行校准，从而提高LED测试机的精度，使经过LED测试机测试合格的LED元件的发光强度一致性更好。
led 测试校准方法标准样品设备

[发明专利]用于产生可变光强度的装置和方法-CN200480041057.0无效
发明人：蒂莫·T·林德克维斯特 -专利权人：诺基亚公司
申请日： 2004-12-22 - 公布日： 2007-01-31 - 主分类号： H05B33/08 文献下载
摘要：一种发光控制装置控制便携电子设备中的用户接口发光。该发光控制装置的输出有选择地将发光强度命令提供到发光控制器。每个发光强度命令指示某些基本发光强度级之一。级选择器以高于人类视觉系统积分频率的频率反复地变化要在所述输出处提供的发光强度命令。
用于产生可变强度装置方法

[发明专利]一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用-CN201510291926.5在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：安徽禄讯电子科技有限公司
申请日： 2015-06-01 - 公布日： 2015-09-23 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用。显微镜包括的内置高发光强度LED集光光源装置；内置高发光强度LED集光光源装置包括电源、亮度调节器、内置高发光强度LED光源、集光罩、灯座；通过亮度调节器控制LED光源发光强弱，给试样鉴别与分析提供所需光线强度高发光强度光源显微镜图像鉴别分析装置包括高发光强度光源显微镜、摄像头和图像分析系统。
一种发光强度光源显微镜图像鉴别分析装置应用

[发明专利]一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用-CN201510325995.3在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：合肥市徽腾网络科技有限公司
申请日： 2015-06-12 - 公布日： 2015-09-23 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用。显微镜包括的内置高发光强度LED集光光源装置；内置高发光强度LED集光光源装置包括电源、亮度调节器、内置高发光强度LED光源、集光罩、灯座；通过亮度调节器控制LED光源发光强弱，给试样鉴别与分析提供所需光线强度高发光强度光源显微镜图像鉴别分析装置包括高发光强度光源显微镜、摄像头和图像分析系统。
一种发光强度光源显微镜图像鉴别分析装置应用

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